| 孙伟莹,谭秉和.钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析[J].岩矿测试,1998,(2):107-111 |
| .[J].Rock and Mineral Analysis,1998,(2):107-111.DOI: |
| 钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析 |
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| 修订日期：1997-01-28 |
| DOI： |
| 中文关键词: 化学价态分析,X射线荧光光谱,钒 |
| 英文关键词: |
| 基金项目:冶金部重点科研项目 |
| 孙伟莹 谭秉和 |
| 北京科技大学化学系 |
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| 中文摘要: |
| 用普通Ｘ射线荧光光谱仪测定了钒的氧化物、钒酸盐及含钒混合物中Ｖ的Ｋβ谱线，借助一套有效的谱处理程序，获得了有关Ｋβ谱线精细结构的谱峰参数，证实了谱线轮廓（Ｋβ″峰逐渐显著，Ｋβ５、Ｋβ″向高能端位移，Ｋβ５与Ｋβ１，３的分开趋势，Ｋβ１，３半峰宽发生变化）及谱峰参数（Ｋβ５峰能量，Ｋβ５与Ｋβ１，３能量差，Ｋβ５与Ｋβ１，３及Ｋβ″与Ｋβ１，３的强度比，以及Ｋβ５和Ｋβ１，３的不对称因子）与Ｖ的氧化数变化呈很强的相关性及规律性变化。 |
| 英文摘要: |
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京公网安备 11010202008159号