| 张天佑,李国会.高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制[J].岩矿测试,1998,(1):68-74 |
| .Development of High Sensitive Total Reflection X Ray Fluorescence Spectrometer[J].Rock and Mineral Analysis,1998,(1):68-74.DOI: |
| 高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制 |
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| Development of High Sensitive Total Reflection X Ray Fluorescence Spectrometer |
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| DOI： |
| 中文关键词: 全反射X射线荧光光谱仪,仪器研制 |
| 英文关键词: total reflection X_ray fluorescence spectrometer, instrument development, |
| 基金项目:地矿部八五重点地质科技项目 |
| 张天佑 李国会 |
| 地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组 |
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| 中文摘要: |
| 报道了由地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组研制的全反射Ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）分析仪。着重介绍了样机的全反射装置、分析特点、技术参数和应用验证，与国内外同类仪器主要技术指标进行对比表明，该样机主要技术指标基本上达到国际同类仪器水平。列出了２３个元素的检出限范围（００８～０９２ｎｇ），测定Ｓｒ的线性动态范围在３个数量级，对地气样品的分析结果与原子吸收光谱法相符。方法精密度好，水样测定中各元素的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于１０％。 |
| 英文摘要: |
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京公网安备 11010202008159号