| 张勤,$2.氢化物—原子荧光光谱法直接测定地质物料中痕量锗[J].岩矿测试,1996,(4):286-289 |
| .[J].Rock and Mineral Analysis,1996,(4):286-289.DOI: |
| 氢化物—原子荧光光谱法直接测定地质物料中痕量锗 |
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| DOI： |
| 中文关键词: 氢化物 原子荧光光谱法 地质物料 锗 |
| 英文关键词: |
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| 张勤 $2 |
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| 中文摘要: |
| 采用特种空心阴极灯作激发光源和具有氩氢火焰低温自动点燃烧装置的原子荧光仪，氢化法直接测定地质物料中痕量锗，方法的测定下限为０．０２μｇ／ｇ线性范围１－４００μｇ／Ｌ，精密度为１．７９％，加标回收率９７．８％。 |
| 英文摘要: |
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