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对X射线荧光光谱分析检出限问题进行了探讨,通过实验指出行标DZ/T 130-2006有关检出限计算公式的不足在于对测量时间的过分依赖,使检出限这一重要参数失去实际意义,需要重新科学定义。 相似文献
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X射线荧光光谱分析检出限问题的探讨与建议 总被引：12，自引：5，他引：7
对有关X射线荧光光谱分析低含量元素的检出限问题进行了多方面的探讨。从检出限的定义及其定义下的相对标准偏差到各种不同测量、校准与校正方法的检出限及其相对应的相对标准偏差进行计算。提出了以定义检出限的相对标准偏差为基准,对各种测量方法计算出的检出限进行重新界定,从而确认一个具有可比性的、精度一致的检出限。同时还讨论了仪器与X光管固有杂质元素谱线对该元素检出限的影响;测量仪器、测量条件与测量时间对检出限的影响;不同岩性试样对检出限的影响;检出限与测定限等问题。 相似文献
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根据石墨炉原子吸收光谱法对土壤中痕量金进行测定,选取金系列标准浓度测量质量—吸光度工作曲线,连续测定多次空白溶液的吸光度值,计算检出限。通过对其检出限的不确定度的分析,确定了检出限不确定度的因素,计算出其扩展不确定度。能比较直观地了解选择的测试条件、建立的分析方法是否达到现行的相关标准及其灵敏度的要求。 相似文献
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原子荧光光谱法直接测定铜矿中的硒 总被引：6，自引：5，他引：6
采用硫脲抑制铜的干扰，不经分离富集原子荧光光谱法直接测定铜矿中的Se。方法的检出限为0．02μg/g。Se浓度在0～80μg／L与荧光强度呈线性关系。用铜矿石国家一级标准物质GBW 07233(ωSe为5．1μg／g)和GBW 07234(ωSe为0.89μg／g)进行精密度试验，RSD(n=12)为3.44％、8.06％。加标准回收试验结果，Se的回收率为93．2％～104、6％。经铜矿石国家标准物质验证，测定结果与标准值相符，方法适用于铜矿中0～8．0μg／g Se的测定。 相似文献
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氯化钠—硝酸溶矿—化学光谱法测定化探样品中的痕量金 总被引：2，自引：0，他引：2
化探样品经灼烧去除易挥发组及有机物后，用硝酸和氯化钠分解，活性炭吸附柱分离富集，采用发射光谱分析法测定金。方法的检出限为0.25ng/g。用化探金标准物质进行测定，其结果与标准值相符，在允许误范围之内，标准物质平行测定15次的相对标准偏差为14.4%。 相似文献
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张振方 《华北地质矿产杂志》1994,9(4):511-515
本文针对目前矿泉水采样分析中所发生的问题，从技术管理角度提出矿泉水采样及矿泉水水质检验单位应具备的具体条件，并提出承验单位在提交矿泉水水质检验报告时应同时提交微量组分检验方法、实测检出限的建议。 相似文献
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准确度,精密度,灵敏度和检出限是化学分析中,特别是光谱化学分析中的重要概念。人们往往根据这些数据来判断和评价某个或某些分析方法。但到目前为止,国内对这些科技名词,符号及其正确用法还没有统 相似文献
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实验室中仪器设备的稳定性对检测结果的准确性有重要的意义,仪器设备除了需要期申请相关检测部门上门检测外,在日常的应用中也需要自检和自查。离子色谱技术可以说是一项非常成熟和稳定的检测分析方法,本文依据仪器检定规程选取基线噪声、基线漂移、最小检出限以及样品重复检测几个方面进行试验探讨,验证仪器设备的稳定性,为实验室检测结果的准确性提供依据。 相似文献
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对近20年来化学发光分析法测定锰的进展作了评述，内容包括发光体系、操作条件、检出限及线性范围、离子干扰与消除以及实际应用。引用文献24篇。 相似文献
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将试样置于潘菲氏管中加入还原铁粉，加热使汞与基体及共存元素分离，继而试验了汞蒸气-原子荧光光谱法测定汞的最佳条件,汞的检出限为0.05μg/L,线性范围为0.5～250μg/L，回收率为94.6%～102.5%。方法已应用于锌精矿中汞的测定,RSD（n=5）＜1%。 相似文献
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钨在各类岩石中的平均含量较低,一般为0.1—1ppm。为了满足地球化学研究的需要,测定下限通常需低于1ppm。这样的分析下限只有用活化分析法,或其它化学预富集测定法才能达到。原子发射光谱法直接测定地质样品中钨的主要困难是测定下限不足。常用的垂直电极蒸发法仅达0.01％,水平电极撒(吹)样法稍低,达0.00x％,测定下限最低的是ICP直接粉末进样法,但也仅达Xppm。 相似文献
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本法是在样品中加入适量的缓冲剂,使难发挥元素Be形成易挥发的氟化物,与B、Pb、Mo、Sn、Cu、Ag、Zn等元素在同一时间内蒸发,利用深电孔极的分馏效应,有效地降低光谱背景以及被测元素的检出限。加入内标元素,提高了方法的准确度和精密度。采用深孔电极,取样量大,代表性好。一次摄谱,同时检测多个元素,大大提高了工作效率,又减少了测试费用。方法操作简便,适合于大批量样品的测试。检出限ω(B)/10-6分别达到:Be:0.50、B:0.91、Sn:0.50、Ag:0.02等,均满足《覆盖区多目标地球化学调查样品测试及质量监控暂行规定》规定。 相似文献