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二轴针台由一个东西轴和针轴(相当于南北轴)构成,加上显微镜的载物台(直立轴)实际上是一个三度空间可旋转的针台。二轴针台的南北轴可以任意旋转360°,空间中的任一条直线经过南北轴的旋转可以水平,任意面可以直立。转动东西轴和南北轴可以使空间中87％~1)的直线直立。四轴或五轴弗氏台不能直立或水平的面和线,在两轴针台上可以使其直立或水平。二轴针台采用分别直立二个光轴的办法来研究二轴晶的光率体方位。二轴针台还可以使晶体中所能见到的晶面或解理面直立,并且在赤平投影网上研究晶体光率体与结晶方位的关系。 相似文献
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在偏光显微镜的锥光系统中,垂直二轴品光率体─—圆切面与光轴面交线的切面干涉图此处定义为临界干涉图。结合球面和平面解析法可以证明,这种干涉图消光影一般为双曲线形,但具体形状与晶体2V角及从0°位置（光轴面平行上或下偏光镜振动方向）旋转的角度有关。它与已知其它切面干涉图的最大区别是,当晶体从0°位置旋转45°时,消光影为一条与目镜横丝或纵丝夹45°角的直线,它到视域中心的距离随晶体2V角的减小而加大,因而在特定物镜数值孔径和晶体折射率的情况下,只有较大2V角晶体的这条消光影才会处在视域之内。在观察橄榄石和角闪石晶体临界干涉图时证实了它的上述特性。 相似文献
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附图一版二轴晶体上消光方位,是由光线通过晶体时两个光波摆动的方向来决定。按照包特与裴司纳尔定律(Biot-Fresnel law),在任何切片上光波摆动的方向必要平分两个光轴投影于切片 相似文献
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用旋转针台确定Ng、Nm、Np方向,较常用的方法是作出矿物消光曲线,从消光曲线上求出Ng、Nm、Np方向,然后再分别测定主折率光率大小. 从消光曲线找到矿物光率体主轴的位置后,再通过“反操作”就可以确定Ne、Ng、Nm、Np主轴在仪器上的位置.例如石英(表1、 相似文献
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一、问题的提出应用旋转台测定矿物光性常数时,有很多晶粒由于Nm轴倾角过大而不能直接测定2V值。作者把Nm轴处于不能通过水平轴转动而达到水平位置的范围称为“盲区”,如图1中光轴面出现在ABC的范围内时,由于它的倾角小于50°,一般很难把它直立,ABC范围称为Nm轴“盲区”。在测试的过程中,当颗粒的Nm出现在“盲区”时,一般都放弃2V测量,但进行统计性测量时,所得的结果不能反映样品实际情况。作者做过 相似文献
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一、前言 晶体切片在聚敛光下正交偏光镜间所产生的干涉环和消光影象称为干涉图,它是晶体光学性质的综合表现。目前,对于干涉图的各种解释,如用等速直射投影图和伯尔丁面进行图解,在平面上用近似的佛楞乃尔定律和双曲线(xy=ab)确定振动方向等,都只能近似地说明一些局部现象,没有那一种解释能够适用于所有的切片,能够同时确切地定出消光影和干涉环的具体形态。 相似文献
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用光学方法测定斜长石,主要就是测定随着成分和结构状态的变化而引起其光学常数和光性方位的变化。因此,准确测定折射率、消光角和光轴角,是斜长石鉴定中的主要光学数据。三轴旋转针台则是精确测定上述光学数据的最有效的测试手段。笔者和施加辛工程师合作,在当前有关测试仪器的基础上,研制出了三轴旋转针台(照片1、2)。笔者认为:三轴旋转针台改进和完善了费氏旋转台的操作、测试方法,使用各种 相似文献
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一、测定方法非均质矿物在反射光下具有使偏光振动面发生非均性旋转的性质.即垂直入射的直线偏光经非均质矿物光片垂直反射后,反射偏光的振动面向非均质矿物较大主反射率轴方向旋转一定的角度.1950年美国学者E·N·卡梅伦和L·H·格林把非均质吸收性矿物的某些结晶学要素(晶体延长习性、解理、双晶等)和这种非均性旋转联系起来,规定结晶学要素方向的反射力大于其垂直方向反射力者为正旋性(图1),反之为负旋性(图2).为了更加实用.可以考虑规定离结晶学要素最近之消光位方向,的反射力大于其垂 相似文献
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1965年,何永年等系统地总结了应用一轴晶矿物干涉图进行岩组分析的方法。干涉图法可以在不具备旋转台的情况下测定一轴晶矿物的光轴方位,并能对一些不利于或无法在旋转台上测量的标本(如解理、裂理特别发育、易产生全反射致使消光位不易定准的方解石标本,矿物晶体粒度过细、旋转台的长焦距物镜放大倍数有限以致无法测量的标本等)进行岩组分析。因此,干涉图法已经不是一种在缺少旋转台时被迫采用的权宜办法,而更为重要的是一种能够解决旋转台所不易解决或无法解决的问题的方法。 相似文献
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本文提出的消光曲线法可以迅速而准确地判断双晶结合面为(010)的斜长石双晶律,并提出测定a轴和c轴的方法。斜长石光学常数的精确测定,历来都是费氏台的专利,其中许多鉴定方法对矿物切面都有特殊要求,需设计相应的鉴定图表。作者设计的晶体光性测试仪可以完成与费氏台相同的,甚至更多的工作,而且只需一个碎屑颗粒即能使用几乎所有的光学龄定方法及鉴定图表。 相似文献
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旋转锥光曲线法是??瓦尔丹年茨1959年创立的.它是利用极射赤平公式(确切地说,应称作消光位公式)计算并投影锥光曲线之后,采用直光逐渐接近法,最终使光率体轴落于该曲线上,为其定位的.笔者在旋转锥光曲线法的基础上,研究和发展了其中的一个方面.在二轴晶斜切面上测得两条或两条以上的锥光曲线,直接交会定位出光率体轴、光轴和确定2 V角.改进后的方法,不仅保留了原方法的所有优点,而且使测试精度有了较大提高.现介绍如下. 相似文献
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变形石英位错的跑动机制及光性异常现象 总被引：1，自引：0，他引：1
在透射电子显微镜(TEM)下测得石英位错滑移面主要为基面和柱面,但本样品发现以三方双锥为滑移面的滑移系(1(?)1(?))[1(?)11]。石英位错壁组态多样,形成机制不同,本文讨论了影响波状消光程度的因素。正交偏光下变形石英2V角可达5°～10°。透射电子显微镜得到(0001)取向的两相邻(2420)面旋转Moirè图,本文认为光轴角的改变由((?)4(?)0)面旋转造成,每旋转0.01°,光轴角将发生5°左右变化。柱面的滑移与旋转可以解释石英C轴优选方位及位错优选方位的机制。 相似文献
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当斜长石双晶片十分纤细时,在旋转台上用常规的双晶法、欧拉角法等进行鉴定是比较困难的,这时必须采用其它方法。常用的方法有:垂直(010)晶带最大消光角法、垂直a轴消光角法、卡斯巴双晶及卡钠复合双晶消光角法。在工作中笔者利用诹访兼位等日本学者根据BPW数据在斜长石的消光角鉴定法研究方面取得的成果,采用了又一种确定斜长石结构状态与成分 相似文献
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近年来,我国岩矿工作者用旋转针台研究透明矿物的光学性质,颇见成效。特别是成都地质学院研制成功CDX—1型旋转针台后,此法受到重视,并得以推广和发展。消光曲线法是旋转针台测定矿物光学常数的一种比较精确而实用的方法。此法是通 相似文献
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方解石垂直光轴的同心环状干涉色圈、高级白干涉色、闪突起现象等是很典型的,可供初学者掌握有关特征,而应用定向切片,可使初学者更方便地观察这些现象。我们对方解石定向切片磨制进行了尝试,达到了预期的效果。同时通过对定向切片的观察,发现了以往文献资料中较少提及的一些特征,对矿物鉴定具有实际意义。 相似文献
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钾长石的2V和Ng∧⊥(010)、Ng∧⊥(001)的夹角是其结构状态的函数,其具有重要的地质意义。本文提出的费氏台砂薄片法所选取的钾长石碎屑近于垂直a轴(即近于垂直光率体的锐角等分线Np),具有易于判定消光位的干涉色和图象清晰的干涉图。在费氏台上用锥光法和四轴法能精确地测定这些光学数据。该方法操作简便、精度可靠,重复或易人求测误差均可控制在2°以内。大量实测结果表明它确是一种好的光学方法。 相似文献
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钾长石的2V和N_g∧⊥(010)、N_g∧⊥(001)的夹角是结构状态的函数,能够表明T_1四面体上Si-Al的有序度,具有重要的地质意义。在砂薄片上选取近于垂直a轴(近于垂直锐角等分线N_p)的钾长石碎屑,具有易于判定消光位的干涉色,取得清晰的干涉图象。在费氏台上用锥光法和四轴法能精确测定这些光学数据。此方法操作简便,精度可靠(误差在2°以内),是一种好的光学方法,值得推广。 相似文献
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正确测定斜长石牌号是岩矿工作的一项重要任务。镜下测定斜长石牌号比较精确的方法是用旋转台来测定双晶轴、双晶结合面或结合解理面等与光率体主轴的关系或者测定斜长石的折射率。近年来,利用旋转台测定斜长石牌号的图表有了新进展,但因斜长石本身结构有 相似文献