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上海天台1.56米天体测量望远镜在1988-1989年间作了若干性能观测,本阐明了其测试的方法和结果,并对这回望远镜的天体测量使用提供了某些参考意见。 相似文献
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星载计时器不但要求其适应空间环境(包括抗辐射性能、抗闩锁、抗翻转性能、电真空性能和很宽的工作温度范围),同时要保证测量精度。该文在介绍时间测量的常见方法后,给出了星载计时器的原理;对计时器工作的空间环境进行了分析,并提出与其相应的适应空间工作环境的策略。 相似文献
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详细论述了时间间隔计数器和事件计时器的工作原理,并阐述了云南天文台卫星激光测距系统中现有测时设备的性能,以及进行了信号周期测量实验.结果表明:测量信号边沿较好时,事件计时器OTL100P的标准偏差优于时间间隔计数器SR620.OTL100P具有直接测量事件发生时刻的特点和高测量精度的优势,能满足云南天文台将来多脉冲激光测卫、测月对测时系统的要求. 相似文献
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近几年,西安导航技术研究所生产了新型的GPS定时接收机,它在高频部件、线路结构、电源部件、防震装置和天线水平等方面进行了改进和更新。这种新接收机在上海天文台进行性能测量,并与老型接收机的性能进行比较,测量结果分析表明,新型接收机在信噪比、可靠性、接收缺损率和短期校频精度等方面都比老型接收机有较大提高,这种新型接收机适用于完成野外流动作业的高水平时间同步任务。 相似文献
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《天文研究与技术》2020,(4)
随着激光测量技术的不断发展,有着"测量机器人"美誉的全站仪在测量精度、灵活机动、快速便捷等方面,有着其它测量技术不可比拟的优势。全站仪作为"天眼"中主要的测量设备,在室外大尺度环境下,如何克服大气折射的影响,了解全站仪动态测量性能,实现高精密的快速扫描测量和高精度的动态跟踪测量,是其中的关键和难点所在。要克服测量过程中不确定因素的影响,需了解其影响程度。介绍了风琴式护罩运动平台、实验过程和数据分析方法,评价全站仪在现场环境下的测量精度和实时性,通过实验测试得到全站仪的时滞在195~295 ms之间,测量精度约为5.3 mm,为后续误差修正提供依据。 相似文献
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本文介绍了云南天文台微带功率晶体管放大器在太阳射电快速记录系统中的设计原理和技术性能,并给出了放大器的线路图和最初的测量结果。 相似文献
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本文介绍了云南天文台微带功率晶体管放大器在太阳射电快速记录系统中的设计原理和技术性能,并给出了放大器的线路图和最初的测量结果。 相似文献
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经常测量天线参数对于改进天线性能以及联测和单天线观测的数据处理都是至关重要的。以前的记录仪手工测量方式,非常繁琐和低效率,不利于对测量结果进行有效的统一管理和深入分析。根据天线效率的测量为例,在PC和Windows2000/XP软硬件平台下统一编程,集成实现天线参数测量的自动化、操作的人性化以及数据分析和曲线拟合的可视化。这将大大降低人工,提高测量效率,更好地保证天线的可靠、高精度的运行以及观测数据的处理。 相似文献
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我们对1.56米天体测量望远镜在加象场改正透镜组物和不加时,使用同样的方法作天体测量性能的检验,与墨西哥国家天文台的2.12米R-C望远镜的同类结果作了相互比较。结果表明加像场改正透镜组时能获得更好的效果。 相似文献
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事件计时器在卫星激光测距中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
传统时间间隔的测量速率受限于被测事件的时间间隔,事件计时概念的引入可以很好地提高测量速率。事件计时器是高重频(kHz级)卫星激光测距(SLR)技术的主要设备。该文介绍了事件计时器A032.ET的性能以及其在卫星激光测距中的应用,为我国开展高重频SLR研究提供了技术支持。 相似文献
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王锦清 《中国科学院上海天文台年刊》2008,(1)
天线的远场辐射方向图(幅度图)在实际天线测量中应用极其普遍,而在一般的资料中很少论及相位特性以及相位和幅度的相互关系,该文对远场的相位以及相位和幅度之间的相互影响作了比较深入的分析,在该文中比较详细地分析了远场相位的理论与实际偏差,及引起这种相位误差的来源和测量方式,这对天线测量及评定天线的性能具有一定的理论和实际参考意义,该文也给出了佘山25m天线的测量结果。由于射电天文望远镜通常为圆形,且工作于信号的远场区域,该文就远场区的表达式在圆形口径面的情况下用标量衍射的手段作了一定的推导。 相似文献
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Chirp信号在天文观测中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
《天文研究与技术》2017,(4)
Chirp信号是一种频率随时间有规律连续变化的信号,由于其优良的自相关特性,在实时宽带高精度频谱测量中有重要应用。通过对Chirp信号的分析,介绍了基于线性Chirp信号的脉冲压缩技术及Chirp变换频谱仪的原理,综述了近30年来Chirp变换频谱仪在行星和彗星大气红外谱测量中的应用及其发展历程。结合当前电子技术的发展,指出了改善Chirp变换频谱仪性能的研究方向。 相似文献
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本文介绍经微机化改造后的Mφ4型测微光度计,能由程序控制,自动测量底片的透过率和光学密度。自动处理测片数据,得到辐射强度、谱线轮廓和等值宽度等数据。测量精度、工作效率有很大提高,性能达到七十年代末英国产品3CS的水平。 相似文献