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从美国引进的QLP/QLM—4582小径岩层产状仪是三臂式的小径仪器。仪器的上部是测量H_x、H_y、H_z三个磁场分量与I_x、I_y两个重力分量,用以确定钻孔倾角及其倾斜方位角,仪器的这部分可用井斜仪校验台标定,仪器的下部是测量岩层倾角用,测量三个高程差的微聚焦电极系安装在互成120°角的带推靠的三个井径臂端,其各中心电极为10mm×10mm的矩形。电极的岩层分辨率为10mm。在孔径为100mm的钻孔中,岩层缓倾斜时的倾角分辨率为5°42′,该部分的标定比较麻烦。为此1986年研制了简易产状刻度器,经过试验取得了一定效果,现介绍如下: 相似文献
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文中介绍方法，旨在以尽可能少的已知点，求取较多的待定点。其要点：由待定点观测已知点，构成具有重合点相关联的交会网形。在此基础上，根据前方交会原理，按网中各交会三角形分别列出反求已知点坐标计算公式，通过变换关系得出解算待定点坐标的矩阵表达式。然后应用共轭斜量法编制计算程序进行解算。 相似文献