全文获取类型
收费全文 | 3016篇 |
免费 | 500篇 |
国内免费 | 285篇 |
专业分类
测绘学 | 982篇 |
大气科学 | 323篇 |
地球物理 | 378篇 |
地质学 | 1100篇 |
海洋学 | 352篇 |
天文学 | 109篇 |
综合类 | 279篇 |
自然地理 | 278篇 |
出版年
2024年 | 8篇 |
2023年 | 29篇 |
2022年 | 59篇 |
2021年 | 88篇 |
2020年 | 67篇 |
2019年 | 108篇 |
2018年 | 39篇 |
2017年 | 37篇 |
2016年 | 67篇 |
2015年 | 110篇 |
2014年 | 362篇 |
2013年 | 252篇 |
2012年 | 385篇 |
2011年 | 350篇 |
2010年 | 232篇 |
2009年 | 242篇 |
2008年 | 180篇 |
2007年 | 132篇 |
2006年 | 112篇 |
2005年 | 122篇 |
2004年 | 74篇 |
2003年 | 96篇 |
2002年 | 83篇 |
2001年 | 84篇 |
2000年 | 45篇 |
1999年 | 39篇 |
1998年 | 49篇 |
1997年 | 55篇 |
1996年 | 43篇 |
1995年 | 49篇 |
1994年 | 37篇 |
1993年 | 16篇 |
1992年 | 28篇 |
1991年 | 29篇 |
1990年 | 22篇 |
1989年 | 18篇 |
1988年 | 5篇 |
1987年 | 4篇 |
1986年 | 7篇 |
1985年 | 2篇 |
1984年 | 6篇 |
1983年 | 5篇 |
1982年 | 4篇 |
1981年 | 6篇 |
1980年 | 3篇 |
1975年 | 2篇 |
1964年 | 2篇 |
1963年 | 2篇 |
1962年 | 1篇 |
1954年 | 1篇 |
排序方式: 共有3801条查询结果,搜索用时 0 毫秒
91.
矿物出溶结构保存有早期母体矿物的物理化学条件信息,对其开展研究不仅有助于了解寄主岩石的来源深度,而且有助于研究减压折返的动力学演化过程.在世界许多高压-超高压带的榴辉岩和石榴辉石岩中,人们普遍发现单斜辉石中有定向排列的针状或棒状SiO2析出物,其矿物相主要为α石英,有时会伴生钙质角闪石等含水矿物.这些定向针状或棒状体通常平行于单斜辉石c[001]轴方向延伸,石英长轴可以为其c[0001]轴或a[1120]轴.电子背散射衍射(EBSD)测试结果表明,多数石英(96%)析出物与寄主单斜辉石具有结晶学取向关系:(1) 50%的石英c轴平行,并且[0001]Qz//[001]Cpx;(2)35%的石英至少有一个a轴平行,并且[1120]Qz//[001]Cpx;(3)11%的石英至少有一个s{1121}面平行,并且(1121)Qz//(100)Cpx.钙质角闪石析出物与寄主单斜辉石也具有密切结晶学取向关系:(100)Amp//(100)Cpx、[010]Amp//[010]Cpx、[001]Amp//[001]Cpx、[100]Amp∧[100]Cpx≈32°.上述定量显微构造证据表明,单斜辉石中定向石英析出物是由出溶作用所形成,并且多数石英出溶体形成于α石英稳定域.已有高温高压实验研究数据表明,单斜辉石中空位的形成和钙埃斯科拉组分(CaEs)的含量均受化学组成、压力、温度等多种因素综合影响:单斜辉石中CaEs含量对化学组成非常敏感,并受到共生矿物体系中自由SiO2相和蓝晶石的共同缓冲;相同化学组成和等压条件下,CaEs含量总体上随温度升高缓慢降低;相同化学组成和等温条件下,CaEs含量在<6 GPa区间随压力升高而增加,在>6 GPa区间随压力升高而降低.单斜辉石定向SiO2析出物的形成可能涉及多种因素,高压只是其中必要条件之一.榴辉岩质单斜辉石中“石英±角闪石”析出物很可能形成于开放体系,与熔流体活动密切相关,涉及多阶段物质扩散、晶体成核生长、重结晶、退变质反应等复杂作用过程.单斜辉石中定向SiO2析出物的显微结构特征并非超高压岩石的必要条件,这种特殊显微结构也不能作为证明超高压的充分条件. 相似文献
92.
93.
94.
95.
96.
97.
对全球电离层反演数据处理中的计算密集型任务进行分析,针对数据预处理、组建法方程矩阵、参数预消除和法方程矩阵求逆等主要模块设计了基于OpenMP(Open Multi-Processing)的并行计算方案。该实验方案在单台服务器下实施,通过算例验证了本文并行计算方案的有效性和可靠性。实验结果表明:采用并行计算后,全球电离层快速解执行时间只需要10~13 min,计算速度加快了约6倍;最终解执行时间只需要39~47 min,计算速度加快了约5倍。本文全球电离层模型精度约为2.8~3.8 TECU,最终解模型精度相比快速解精度提高了约0.2 TECU,与IGS各个分析中心电离层产品精度基本相当。 相似文献
98.
99.
100.