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81.
82.
辉钼矿中钼,硫,铜,钛,硅等元素的X—射线荧光分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文继续研究了用XRFA法测定辉钼矿中钼、硫、铁、钛、硅等元素的分析方法。通过用粉末压片法,薄样法与基本参数法相结合,克服了样品粒度和基体效应,有效地控制了硫化物变异性的影响。与已研究的XRFA测定铼的方法相配合,形成辉铜矿中主、次与痕量元素的测定方法。该方法分析结果与化学分析,火花源质谱分析的结果相符。  相似文献   
83.
镜质组的荧光化学   总被引:2,自引:0,他引:2  
  相似文献   
84.
85.
86.
本文以Pcl并不同深度岩心和地表土壤作为分析样品,通过三维全扫描荧光光谱等分析。揭示了该区油气垂向运移规律和地下油气的某些分布特征。研究表明,芳烃三维荧光光谱方法是研究芳烃组成变化最理想的手段之一,可以有效地解决油气运移等问题。  相似文献   
87.
李国会  马光祖 《岩矿测试》1994,13(4):264-268
研究工作表明在粉末压片试样中,由于不同价态的硫所发射的X射线谱发生位移,Ka/kβ谱线强度比不一致;以及粉末压片-XPE测定硫的结果随保存时间的增长发生变化,导致了分析地质试样中全硫时的测定误差,提出采用熔融粉末压片法制样,试样中硫全面部转为在硫酸盐硫,克服了谱线位移和试样不稳定问题,提高了全硫分析结果的准确性。  相似文献   
88.
本文叙述了XRF测定地质样品中微量As,Ga,Co,Ni,Br,Cl,S和F的分析方法。采用压片法制样。对As,Ga,Co,Ni和Br元素,用散射内标法校正基体效应,而对Cl,S和F元素则用经验系数法进行基体校正。各元素的探测限(ppm)分别为:As 2.7,Ga 2.4,Co 2.8,Ni 2.5,Br 1.0,Cl,S 5.0,F 500。方法的精密度和准确度与其它化学方法相当,是一种简便快速和较灵敏的分析方法。  相似文献   
89.
一种校正基体效应的方法   总被引:9,自引:0,他引:9  
  相似文献   
90.
X射线荧光技术用于西秦岭地区金矿勘查   总被引:1,自引:0,他引:1  
徐相成 《铀矿地质》1990,6(5):303-307
本文根据用轻便型X射线荧光仪在西秦岭数个金异常区测量金的伴生元素——砷的荧光强度,间接找寻金矿的实践,阐明用该仪器可快速圈定金矿远景区和揭示隐伏金矿体,提高找矿效果。并对使用X射线荧光技术进行现场测量及配合金异常查证工作,作了初步探讨。  相似文献   
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