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101.
微X射线束荧光扫描成份分析研究：元素二维分布图 总被引：4，自引：0，他引：4
经过改进的微X射线扫描分析装置,扩大了测量范围;提高了位移精度;处理数据及绘制二维(平面)元素分布图实现计算机化。测量并绘制出大洋锰结核中多元素平面分布图。 相似文献
102.
103.
辉钼矿中钼,硫,铜,钛,硅等元素的X—射线荧光分析 总被引：1，自引：0，他引：1
本文继续研究了用XRFA法测定辉钼矿中钼、硫、铁、钛、硅等元素的分析方法。通过用粉末压片法,薄样法与基本参数法相结合,克服了样品粒度和基体效应,有效地控制了硫化物变异性的影响。与已研究的XRFA测定铼的方法相配合,形成辉铜矿中主、次与痕量元素的测定方法。该方法分析结果与化学分析,火花源质谱分析的结果相符。 相似文献
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107.
108.
X射线荧光光谱分析中不同价态硫对测定硫的影响及地质试样中全硫… 总被引：2，自引：3，他引：2
研究工作表明在粉末压片试样中，由于不同价态的硫所发射的Ｘ射线谱发生位移，Ｋａ／ｋβ谱线强度比不一致；以及粉末压片－ＸＰＥ测定硫的结果随保存时间的增长发生变化，导致了分析地质试样中全硫时的测定误差，提出采用熔融粉末压片法制样，试样中硫全面部转为在硫酸盐硫，克服了谱线位移和试样不稳定问题，提高了全硫分析结果的准确性。 相似文献
109.
地质样品中砷、镓、钴、镍、溴、氯、硫和氟的X射线荧光光谱法测定 总被引：4，自引：0，他引：4
本文叙述了XRF测定地质样品中微量As,Ga,Co,Ni,Br,Cl,S和F的分析方法。采用压片法制样。对As,Ga,Co,Ni和Br元素,用散射内标法校正基体效应,而对Cl,S和F元素则用经验系数法进行基体校正。各元素的探测限(ppm)分别为:As 2.7,Ga 2.4,Co 2.8,Ni 2.5,Br 1.0,Cl,S 5.0,F 500。方法的精密度和准确度与其它化学方法相当,是一种简便快速和较灵敏的分析方法。 相似文献
110.