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TAP,PET等分析晶体的表面处理 总被引：2，自引：0，他引：2
晶体是X射线光谱仪的心脏。一个良好的分析晶体应具备以下主要特点:(1)波长范围应适合于所要测量的分析线;(2)反射强度大;(3)分辨率高——高的色散能力和窄的衍射峰宽度;(4)峰背比高;(5)使用时稳定性好,并能经受X射线的长时间照射。最主要的是晶体要有高的衍射强度和好的分辨率,但在我们常用的晶体TAP,PET Ge,InSb,LiF中,由于晶体的潮解,X射线照射的损伤以及酸碱的化学吸附,使晶体的反射强度大大减弱,以致无法使用。为了使这些价格昂贵的晶体 相似文献
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X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用研究 总被引：2，自引：0，他引：2
X射线荧光光谱分析方法作为一门较为成熟的成分分析技术,因具有多元素同时测定、含量范围宽、精密度高、分析速度快等特点,已广泛地应用于冶金、地质、化工、生物、环境和半导体电子工业等领域以及各类分析化学研究实验室[1]. 相似文献
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X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分 总被引：25，自引：13，他引：25
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07308和GBW07310水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Cr、Co和Th<14.00%以外,其余各组分均小于6.00%。 相似文献
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高压粉末制样波长色散X射线荧光光谱法测定生物样品中23种元素 总被引：1，自引：1，他引：0
应用X射线荧光光谱法(XRF)分析生物样品,采用传统低压粉末制样方法(压强220~440 MPa)难以将样品压制成符合测定需要的样片,样片表面粗糙,粉末容易脱落,污染XRF仪器样品室,影响仪器的长期稳定性。本文采用高压粉末制样方法在1760 MPa下压制则完全克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,5次制样重现性为0.1%~2.6%,且降低了仪器的维护成本。在此基础上,建立了波长色散X射线荧光光谱法直接测定生物样品中23种主次量元素(Al、Ca、Cl、K、Mg、Na、P、S、Si、Ba、Br、Co、Cr、Cu、Fe、Mn、Ni、Pb、Rb、Sr、Ti、V、Zn)的分析方法,采用经验系数法、散射线内标法和峰背景作内标校正基体效应,大部分元素的方法精密度提高至 0.4%~11.3%,检出限为0.08~140.96 μg/g。经国家一级生物标准物质验证,表明方法准确可靠,能满足日常分析要求。 相似文献
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X—射线荧光光谱法在标准物质均匀性检验中的应用 总被引：8，自引：0，他引：8
选取ＸＲＦ法对标准物质进行均匀性检验时的常用的分析元素，根据Ｂｅｅｒ－Ｌａｍｂｅｒ定律，推算出ＸＲＦ分析这到临界饱和厚度时取样量的计算公式，将计算了待定值的几种岩石和矿物标准物质中某些元素的实际照射样品量Ｗ。 相似文献
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X射线荧光光谱法直接测定碳酸盐岩石中主次痕量元素 总被引：12，自引：10，他引：12
采用粉末样品压片制样，碳酸盐岩石标样及人工合成标样为标准，使用理论α系数及散射线内标法校正元素的吸收＿增强效应，用Ｘ射线光谱仪对碳酸盐岩石试样中的Ｎａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｐ、Ｓ、Ｃｌ、Ｋ、Ｃａ、Ｓｃ、Ｔｉ、Ｖ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｇａ、Ｒｂ、Ｓｒ、Ｙ、Ｚｒ、Ｎｂ、Ｂａ、Ｐｂ、Ｌａ、Ｃｅ和Ｔｈ等３０种主次痕量元素进行测定，其分析结果与标样标准值（或化学法值）符合较好，方法的精密度（ＲＳＤ，ｎ＝１０）＜１０％（除含量在检出限附近的元素外），各元素检出限基本满足化探要求 相似文献
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