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高温高压和控制氧逸度条件下透辉石电导率的各向异性实验研究 总被引:2,自引:0,他引:2
在1.0~4.0GPa 和1073~1373K 及控制氧分压条件下,借助于 YJ-3000t 紧装式六面顶固体高压设备和1260阻抗/增益-相位分析仪,就位测定了沿着不同晶轴方向的透辉石的电导率。氧逸度控制是由 Ni+NiO 固体缓冲剂完成的。实验结果表明:(1)在选择的频率范围,无论从复阻抗的模与频率还是从相角与频率关系上,部可以看出复阻抗对频率具有很强的依赖性;(2)随着温度升高,阻抗降低,电导率增大,Logo 与1/T 之间符合 Arrenhius 线性关系式;(3)随着压力升高,[001]方向的透辉石电导率降低,活化焓和指前因子亦随之减小,并首次获得了透辉石中主要载流子的活化能和活化体积分别为1.80±0.04eV 和0.035±0.015cm~3/mol;(4)在2.0GPa 下按照[001]、[100]、[010]的顺序,样品的电导率和指前因子降低,活化焓依次升高,高压下的透辉石电学性质存在各向异性;(5)小极化子导电机制可为透辉石在高温高压下的导电行为提供合理的解释。 相似文献
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在1.0~4.0GPa和1073~1423K及不同的氧分压条件下,借助YJ-3000t紧装式六面顶高压设备和Sarltron-1260阻抗/增益-相位分析仪,就位测定了斜方辉石的电导率。氧逸度控制由Ni+NiO、Fe+Fe3O4、Fe+FeO和Mo+MoO2四种固态氧缓冲剂完成的。实验结果表明:①在所选择的频率范围内(10^-1~10^6Hz),复阻抗对频率有很强的依赖性;②随着温度(T)升高,电导率(σ)增大,logσ与1/T之间符合Arrenhius关系; 相似文献
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在1.0、2 .0GPa和873~12 2 3K的温压条件下,借助于12 6 0阻抗增益相位分析仪测定了叶蜡石的电导率,并用阻抗谱原理分析了其微观导电机制。实验结果表明:样品的电导率对频率具有很强的依赖性;电阻率随着温度的升高而减小,电导率随着温度升高而增大,logσ与1/T之间符合Arrenhius线性关系;叶蜡石在1.0GPa和2 .0GPa的压力下脱水温度分别为10 74K和110 1K。根据本次获得的电导率实验结果并结合前人对滑石族所做的工作,得出了与前人不同的结论:滑石族矿物脱水电导率曲线出现了转折点。 相似文献
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