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本文关注的是高能双能X射线透视成像以及成像中物体的识别和检测,按照从单能到低能双能再到高能双能的发展脉络介绍了双能X射线DR成像技术背景,详细阐述了高能双能X射线DR成像物质识别原理方法、技术特点和针对性改进,着重讨论了该方法能够用于物质识别的本质,并介绍了该领域面临的挑战和最新进展。 相似文献
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