能量色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中钼铅铁铜   总被引：1，自引：1，他引：0       下载免费PDF全文

田文辉  王中岐  张敏 《岩矿测试》2008,27(3):235-236

建立了能量色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中钼、铅、铁、铜的方法,讨论了粒度效应、矿物效应的影响因素,确定了采取粉末样品,用系列标准样品建立工作曲线,通过元素间相互校正消除基体效应,用内控标准样品考察了方法的精密度(RSD,n=11)为0.44%～15.4%。实际样品的测定结果和化学法相符,可满足日常分析工作需要。  相似文献   

对共反射面叠加的进一步探讨          下载免费PDF全文

田文辉  李振春  孙小东 《地球物理学进展》2006,21(3):932-937

共反射面元（CRS）叠加考虑了反射层的局部特征和第一菲涅耳带内的全部反射，更充分挖掘了多次覆盖数据的潜力.但在地下介质复杂并存在倾斜层时存在反射点分散的情况，从而影响了CRS叠加效果.本文从射线理论出发，在考虑反射层局部特征的情况下，推导了水平地表和起伏地表情况下计算真实反射点分散程度的公式，最终将反射点分散程度定量表达出来.通过对反射点分散程度的控制，从CRS道集中抽取出共反射点（CRP）道集，在CRP道集中而不是在CRS道集中实现叠加，其效果应比传统的CRS叠加效果要好.利用水平地表和起伏地表的模型验证了本文所推导的公式的正确性和有效性.该公式在实际资料处理中的运用尚待进一步研究.  相似文献