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| 上海市地矿局氮化硅制品厂氮化硅样品结构浅析 | |
| 作者姓名： | 张洁 张乃枝 |
| 作者单位： | [1]武汉工业大学测试中心 [2]武汉工业大学东湖材料复合新技术公司 |
| 摘 要： | 采用Ｘ射线衍射法测定了上海市地矿局氮化硅制品厂的样品物相组成及结构，并利用扫描电子显微镜分析了样品的显微结构，对其进行了分析。 |
| 关 键 词： | 氮化硅 样品结构 显微结构 上海 氮化硅制品厂 |
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