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| 在弗氏台上对薄片内均质体矿物折光率的测定方法 | |
| 引用本文： | 张保民,兰玉奇.在弗氏台上对薄片内均质体矿物折光率的测定方法[J].地质论评,1964,22(2):153-157. |
| 作者姓名： | 张保民 兰玉奇 |
| 摘 要： | 在岩矿鉴定工作中,迫切须要准确的测定矿物的光学数据,尤其是矿物的准确折光率数值更属重要。但就薄片内直接测定矿物折光率的问题迄今尚存在一定困难。在此拟就弗氏台上利用薄片内矿物的裂隙或解理测定均质体矿物折光率的方法探讨如下: 在弗氏台上利用矿物全反射角来测定折光率 |
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