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| PSP0—CCD系统评估 | |
| 引用本文： | 姚永强,张振超.PSP0—CCD系统评估[J].紫金山天文台台刊,1998,17(3):41-46. |
| 作者姓名： | 姚永强 张振超 |
| 作者单位： | [1]中科院紫金山天文台 [2]中科院南京天文仪器研制中心 |
| 摘 要： | 本文介绍对分光仪ＰＳＰ０探测器ＴＨ７８３２ＣＣＤ的评估结果。该ＣＣＤ系统工作在－１３０℃￣－１１０℃温度下，具有较好的稳定性和很好的线性。系统的读出噪声约为３００电子，动态范围３５００。在实验结果的基础上，文章对系统性能的改善进行了简单的讨论。 |
| 关 键 词： | 分光光度仪 CCD评估 探测器 天文仪器 |
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