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| 西安半坡博物馆遗址图的测制——一次使用超低空垂直摄影技术的尝试 | |
| 引用本文： | 赵培洲 ,宋德闻 ,沈耀成.西安半坡博物馆遗址图的测制——一次使用超低空垂直摄影技术的尝试[J].测绘通报,1987(5). |
| 作者姓名： | 赵培洲 宋德闻 沈耀成 |
| 摘 要： | 本文论述采用超低空垂直摄影技术对西安半坡博物馆大厅内馆藏遗址进行的摄影测量。该工程采用联邦德国OPTON厂的SMK-120立体摄影机摄影，精密测图仪测图，成图比例尺为1：25，等高距为2cm，共制作文物地形图20幅，并进行了非量测象机的摄影测量试验。在此基础上又对实测的1：25进行了缩编，制作了比例尺为1：80的遗址图两幅。同时采用解析空中三角测量作控制点加密试验，其平面精度为±1.5cm，高程精度为±2.5cm。 |
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