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| 利用透射电镜及同步辐射X光衍射图相研究粉红色及红色金刚石的结构缺陷 | |
| 引用本文： | 苑执中,彭明生,蒙宇飞.利用透射电镜及同步辐射X光衍射图相研究粉红色及红色金刚石的结构缺陷[J].矿物岩石地球化学通报,2007,26(Z1). |
| 作者姓名： | 苑执中 彭明生 蒙宇飞 |
| 摘 要： | 金刚石不仅是最贵重的宝石,而且在工业用途上也是首选的材料.金刚石所存在的缺陷常常也产生了更好的特性.例如:塑性变形可引起金刚石产生粉红色及红色.含有磷离子的合成金刚石可以取代硅作为超级计算机的芯片.在谱学方面研究1-3]基础上,我们最近又做了透射电子显微镜(TEM)和同步辐射白色X光衍射图相研究,观察粉红色及红色金刚石的微结构及晶体结构缺陷. |
| 关 键 词： | 金刚石 结构缺陷 透射电镜 X光衍射 |
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