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| 激光荧光法测定地质样品中痕量铀 | |
| 引用本文： | 杜安道,杨桂芳.激光荧光法测定地质样品中痕量铀[J].岩矿测试,1989,8(3):208-211. |
| 作者姓名： | 杜安道 杨桂芳 |
| 作者单位： | 地矿部岩矿测试技术研究所 (杜安道，杨桂芳，周肇茹)，地矿部岩矿测试技术研究所(李蓉华) |
| 摘 要： | 作者研制了XPY和XBY两种荧光增强试剂,用于激光荧光法测定地质样品中痕量铀。荧光增强剂不仅对铀有荧光增强作用,而且使测定体系具有较强的抗干扰能力。经验证对岩石样品中的铀的检出下限为0.01ppm。能满足岩石矿物中痕量铀的测定要求。 |
| 关 键 词： | 激光荧光法 地质样品 铀 |
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