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| 地质样品中痕量砷、锑、铋、镉、锗铟铊的光谱测定 | |
| 引用本文： | 吴景钵,温子瑛,张敏.地质样品中痕量砷、锑、铋、镉、锗铟铊的光谱测定[J].岩石矿物学杂志,1983,2(2):133-135. |
| 作者姓名： | 吴景钵 温子瑛 张敏 |
| 作者单位： | 中国地质科学院岩矿测试技术研究所，武汉地质学院化分系，武汉地质学院化分系 毕业生，毕业生 |
| 摘 要： | 随着地球化学研究的逐步深入对痕量As、Sb、Bi、Cd及In、Ge、Tl的测定要求为10~(-5)—10(~6)%。为此即使采用“ICP”法也很难达到这样低的检出限。本文采用比较简单的室电极,直流电弧,以碘化钾,硫磺,焦硫酸钾,炭粉作反应剂一缓冲剂,并采用饱和的K_2S_2O_7(内含少量I_2和KI溶液浸泡电极,减少样品蒸气向电极外壁扩散及抑制造岩元 |
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