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| X射线荧光光谱测定USGS—Ⅲ岩石标准样品中的铷和锶 | |
| 引用本文： | 茅祖兴.X射线荧光光谱测定USGS—Ⅲ岩石标准样品中的铷和锶[J].岩石学报,1986,2(2). |
| 作者姓名： | 茅祖兴 |
| 作者单位： | 中国科学院地质研究所 |
| 摘 要： | 岩石或矿物中铷和锶的含量可以用X射线荧光光谱、原子吸收光谱、光学发射光谱、质谱、中子活化分析等分析方法进行测定。Flanagan(1976)统计了用各种分析方法测定8个USGS岩石标准样品中铷锶含量的平均值,结果表明,X射线荧光光谱的分析结果,其准确度和精密度虽不及质谱同位素稀释法,但高于光学发射光谱和原子吸收光谱分析法。1976年美国地质调查局(USGS)发行了8个新的岩石标准样品(Flanagan,1976),它们是玄武岩BHVO-1、海洋泥质岩MAG-1、石英安粗岩QLO-1、流纹岩RGM-1、页岩 |
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