离子探针技术在地球化学研究中的应用综述 |
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引用本文: | 杨晓志,夏群科,程昊,吴元保.离子探针技术在地球化学研究中的应用综述[J].安徽地质,2004,14(1):52-57. |
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作者姓名: | 杨晓志 夏群科 程昊 吴元保 |
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作者单位: | 中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026;中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026;中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026;中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026 |
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摘 要: | 离子探针(SIMS)是一种固体原位微区分析技术,具有很多其它的仪器分析技术所不具备的优点,在地球化学分析研究中有独特的作用,主要用于元素含量和同位素组成的测定,能对大多数元素进行微区、微量、高灵敏度和高分辨率的分析.结合目前的一些研究资料,本文对SIMS的基本结构和原理、测定精度和准确度的影响因素以及一些典型的校正方法进行了讨论,并简单介绍了SIMS技术在地球化学领域中的应用.
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关 键 词: | SIMS 地球化学 影响因素 准确度 精度 应用 |
文章编号: | 1005-6157(2004)01-052-06 |
修稿时间: | 2003年10月20日 |
ION PROBE TECHNOLOGY APPLICATED IN GEOCHEMISTRY RESEARCH |
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Abstract: | |
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Keywords: | SIMS |
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