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离子探针技术在地球化学研究中的应用综述
引用本文:杨晓志,夏群科,程昊,吴元保.离子探针技术在地球化学研究中的应用综述[J].安徽地质,2004,14(1):52-57.
作者姓名:杨晓志  夏群科  程昊  吴元保
作者单位:中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026;中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026;中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026;中国科技大学地球和空间科学学院,化学地球动力学研究实验室,安徽,合肥,230026
摘    要:离子探针(SIMS)是一种固体原位微区分析技术,具有很多其它的仪器分析技术所不具备的优点,在地球化学分析研究中有独特的作用,主要用于元素含量和同位素组成的测定,能对大多数元素进行微区、微量、高灵敏度和高分辨率的分析.结合目前的一些研究资料,本文对SIMS的基本结构和原理、测定精度和准确度的影响因素以及一些典型的校正方法进行了讨论,并简单介绍了SIMS技术在地球化学领域中的应用.

关 键 词:SIMS  地球化学  影响因素  准确度  精度  应用
文章编号:1005-6157(2004)01-052-06
修稿时间:2003年10月20日

ION PROBE TECHNOLOGY APPLICATED IN GEOCHEMISTRY RESEARCH
Abstract:
Keywords:SIMS
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