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| 垂向屏障等位电测法 | |
| 引用本文： | 黄启声.垂向屏障等位电测法[J].物探与化探,1981,5(3):164-171. |
| 作者姓名： | 黄启声 |
| 摘 要： | 在疏松层较厚地区进行电法勘探时,低阻屏蔽影响是长期得不到解决的重要干扰因素,它使视电阻率曲线只能简单反映基岩起伏形态,而难以了解基岩内部电性变化情况,因而大大降低了电法的勘探率果。 |
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