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| 基于电阻率成像技术的基坑渗漏探测方法 | |
| 摘 要： | 随着城市建设的不断发展和进步,地下工程规模越来越大,各种超大超深基坑不断出现,特别是在软土和地下水丰富、水位较高地区,由于基坑工程的渗漏问题导致的工程事故时有发生。基坑渗漏是基坑止水帷幕施工中常见的一种施工缺陷,所以预先对基坑围护体系的渗漏情况进行探测,若发现有渗漏区域在开挖之前及时进行处理与预防就显得尤为必要。这里阐述基坑围护体系发生渗漏时,基坑周围地下水流线的变化特征,流线向渗漏处聚集,渗流位置的水流线密集区域渗流阻力小,导致基坑周围土体的渗漏处电阻率变低。给出了基于电阻率成像技术,通过探测基坑周围土体在基坑降水前后的电阻率变化,进行基坑渗漏探测的方法,并通过两个工程实例说明该方法能探测出基坑渗漏三维位置,探测结果客观准确。 |
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