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模拟退火算法在基于LUT结构的FPGA工艺映射中的应用
引用本文:杨劲秋,孙世新.模拟退火算法在基于LUT结构的FPGA工艺映射中的应用[J].成都信息工程学院学报,2006,21(4):497-499.
作者姓名:杨劲秋  孙世新
作者单位:电子科技大学计算机与工程学院,四川,成都,610054
摘    要:介绍了采用现代较为常用的模拟退火算法对基于LUT结构的FPGA进行工艺映射的计算。首次采用点可见的编码方法对工艺映射的结果进行编码,在此基础上采用模拟退火算法进行计算,获得了较好的效果和收敛速度。

关 键 词:LUT  FPGA  工艺映射  模拟退火算法  面积优化
文章编号:1671-1742(2006)04-0497-03
修稿时间:2005年9月8日

Application of SAA in FPGA technology mapping based on LUT structure
YANG Jin-qiu,SUN Shi-xin.Application of SAA in FPGA technology mapping based on LUT structure[J].Journal of Chengdu University of Information Technology,2006,21(4):497-499.
Authors:YANG Jin-qiu  SUN Shi-xin
Abstract:The SAA(Simulated Annealing Algorithm) is introduced to calculate the LUT-based FPGA technology mapping.The result of the technology mapping is coded by the visual-node method and calculated with the SAA.A good result and a fast convergent speed is obtained.
Keywords:LUT  FPGA  technology mapping  SAA  area optimization  
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