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IBIS-S测量系统形变探测精度分析

摘要：	地基雷达IBIS-S系统在微变形监测领域展现出了巨大优势。本文介绍了IBIS-S系统的工作原理,同时利用模拟变形实验验证了该系统的测量精度。数据处理过程中分别考虑了静杂波相位分量和环境扰动对变形信号的影响,并进行了去除处理。实验结果表明,变形数据经过处理后的精度可以达到亚毫米级,能满足高精度的微变形监测任务需求。
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