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| 地质样品发射光谱分析中降低钨分析检出限的途径 | |
| 引用本文： | 陈寿根.地质样品发射光谱分析中降低钨分析检出限的途径[J].岩矿测试,1988(2):152-154. |
| 作者姓名： | 陈寿根 |
| 作者单位： | 中国有色金属工业总公司矿产地质研究院 |
| 摘 要： | 钨在各类岩石中的平均含量较低,一般为0.1—1ppm。为了满足地球化学研究的需要,测定下限通常需低于1ppm。这样的分析下限只有用活化分析法,或其它化学预富集测定法才能达到。原子发射光谱法直接测定地质样品中钨的主要困难是测定下限不足。常用的垂直电极蒸发法仅达0.01％,水平电极撒(吹)样法稍低,达0.00x％,测定下限最低的是ICP直接粉末进样法,但也仅达Xppm。 |
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