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| 分子发射空腔分析测定地质样品中的硫 | |
| 引用本文： | 冯国经.分子发射空腔分析测定地质样品中的硫[J].矿产与地质,1985(2). |
| 作者姓名： | 冯国经 |
| 摘 要： | 地质样品中的硫,通常采用容量法或重量法进行测定。然而对矿物包裹体中微量硫的测定,采用以上方法就比较困难了。近年来用分子发射腔分析(简称MECA)来测定准金属和非金属元素国外有一些报导。我们将该技术用于地质样品中微量硫的测定,获得满意的结果,本分析方法测定硫具有简单、快速、绝对灵敏度高、适宜于少量样品的分析等优点。 |
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