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X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值
引用本文:孙伟莹,谭秉和.X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值[J].岩矿测试,1998,17(3):193-196.
作者姓名:孙伟莹  谭秉和
作者单位:北京科技大学化学系,北京,100083
摘    要:用X射线荧光光谱法测定了一系列钒的氧化物混合物中V的Kβ谱线的精细结构,研究了钒的氧化物中Kβ谱峰参数随混合物平均原子价变化的规律,并利用所作的定标曲线对一些实际样品,如钒渣、磁铁矿中钒的平均原子价进行了定量测定。

关 键 词:  X射线荧光光谱  价态分析
修稿时间:1997-01-28

Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF
Sun Weiying,Tan Binghe.Determination of Average Atomic Valence of Vanadium by XRF[J].Rock and Mineral Analysis,1998,17(3):193-196.
Authors:Sun Weiying  Tan Binghe
Abstract:
Keywords:vanadium  X  ray fluorescence spectrum  valence analysis
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