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| 电子探针分析的X射线能谱法 | |
| 引用本文： | 森健,兼平庆一郎,王文珍.电子探针分析的X射线能谱法[J].世界地质,1985(Z1). |
| 作者姓名： | 森健 兼平庆一郎 王文珍 |
| 摘 要： | 本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学分析相对比和对矿物化学方程式的测定表明,该方法的准确度和精度是可靠的。实际上该准确度不低于传统的湿式化学分析;对于浓度范围0.1～0.2wt％的元素也是如此。这种精度与湿式化学分析的精度属于同一个数量级。现在,在地球化学上,能谱仪可以适用于各种分析条件。 |
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