| 近红外光谱分析在寿山石鉴别中的应用 |
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| 引用本文： | 黄志明,汤德平,林辉,解小建.近红外光谱分析在寿山石鉴别中的应用[J].地质科学译丛,2014(5):34-43. |
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| 作者姓名： | 黄志明 汤德平 林辉 解小建 |
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| 作者单位： | 福州大学紫金矿业学院,福建福州350116 |
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| 基金项目： | 本研究工作得到福州百年景福堂珠宝有限公司的资助.南京宝光检测技术有限公司提供了便携式宝玉石近红外光谱仪,张丛森工程师给予了技术支持.福州大学测试中心徐两军进行了中红外光谱的测试.在此一并表示谢意! |
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| 摘 要： | 寿山石品种繁多,其鉴别和分类也一直是个难题.首次利用便携式近红外光谱仪（NIR）研究了不同类别寿山石的近红外光谱特征.根据寿山石样品状态（块状和粉末状）的不同表面形态、粒度、质量等因素对近红外光谱测试结果的影响进行了分析,讨论了近红外光谱的主要吸收峰归属,旨在探索一种无损、便捷的寿山石鉴别方法.结果表明,利用便携式近红外光谱仪完全可以区分寿山石的三个主要类别,即高山石类（高岭石族）、芙蓉石类（叶蜡石）、汶洋石类（伊利石）.在块状寿山石样品的近红外光谱1 400 nm区域,高岭石族矿物表现为一对双峰;叶蜡石和伊利石都仅有一特征单峰,叶蜡石表现为1 392 nm,伊利石表现为1 406 nm.寿山石样品的表面形态对近红外光谱没有明显的影响.粉末状寿山石样品的近红外光谱吸收峰更为尖锐,分裂程度更好.除了1 400 nm处的吸收峰外,在2 180 nm左右,高岭石类矿物表现为双峰,而叶蜡石和伊利石为单峰,但叶蜡石的吸收峰位于2 168 nm,伊利石位于2 195 nm.在条件允许的情况下,获取10 mg左右的寿山石样品粉末,便可获得清晰的近红外光谱.
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| 关 键 词： | 寿山石 近红外光谱 鉴别 |
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