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| X射线荧光光谱分析中重迭谱的解析方法 | |
| 引用本文： | 高长宁,陈远盘.X射线荧光光谱分析中重迭谱的解析方法[J].矿产与地质,1990,4(2):92-96,F003. |
| 作者姓名： | 高长宁 陈远盘 |
| 作者单位： | 冶金部安全环保研究院 (高长宁)，中国有色金属工业总公司矿产地质研究院(陈远盘) |
| 摘 要： | 本文介绍了X射线荧光光谱领域内谱图解析的几种主要方法。在阐述曲线拟合解谱基本原理的基础上,对其中特殊的基于泊松分尔(Poisson Distribution)的解谱方法的原理和特点进行了较详尽的描述。重点讨论了网格法最优化方法和统计试验最优化方法。这二种求全局极值的最优化方法。 |
| 关 键 词： | X射线 荧光光谱 重迭谱 解析法 |
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