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| 控制试样法在化探样品光谱分析中的应用 | |
| 引用本文： | 周剑林.控制试样法在化探样品光谱分析中的应用[J].岩矿测试,1987(1):71-73. |
| 作者姓名： | 周剑林 |
| 作者单位： | 江西地矿局物化探大队实验室 |
| 摘 要： | 控制试样法在冶金钢铁分析中的应用已有介绍,该法具有简便快速节约等优点,然而在地质样品分析中却很少应用。本文结合化探样品的特点,对该法在化探样品光谱分析中的应用做了尝试。由于控制试样法仅与所带的控制样品有关,而与谱板的乳剂性质无关。本法在应用于化探样品Ag、Li、Pb、Sn、Mo、B六种元素的光谱测定中取得了满意的结果。各元素的相对标准偏差为7—13％,精密度略优于三标准试样法。通过对地球化学标准样的分析,本法的测定结果与推荐值接近,△logC多数在±0.1以内。使用本法不要求比三标准试样法更高的工作条件,能节省标准试样和光谱干板,降低生产成本,提高工作效率。 |
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