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| X射线荧光光谱—点滴麦勒膜制片法测定金标准样品中金银铜锌 | |
| 引用本文： | 陈永群,詹秀春.X射线荧光光谱—点滴麦勒膜制片法测定金标准样品中金银铜锌[J].岩矿测试,1994,13(3):211-213. |
| 作者姓名： | 陈永群 詹秀春 |
| 摘 要： | 酸分解试样，点滴麦勒膜制片，Ｎｉ元素作内标，使用Ｘ射线荧光光谱法同时测定金银标准样品中Ａｕ，Ａｇ，Ｃｕ和Ｚｎ，分析范围为０．２％－１００％。对于Ａｕ，Ａｇ，Ｃｕ和Ｚｎ含量为８３％，８．０％，６．２％，３．０％的试样，其ＲＳＤ（ｎ＝６）分别为０．１％、１．１％、０．９％和１．１％。 |
| 关 键 词： | 金 样品 银 铜 锌 荧光光谱法 |
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