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| 单色光源X光机在改进粉末图谱精确度和清晰度中的作用 | |
| 引用本文： | 魏明秀.单色光源X光机在改进粉末图谱精确度和清晰度中的作用[J].矿产与地质,1985(4). |
| 作者姓名： | 魏明秀 |
| 摘 要： | 在近10—15年内,由于计算方法的发展,使得粉末法在获得精确的晶胞参数、正确地指标化粉末图谱及取得结构信息等方面均有较大的突破。粉末数据现代计算分析方法的基础与计算机自动检索卡片成功率,都取决于粉末图谱的分辨率、探测限(两者与粉末谱的清晰度有关),以及衍射角测量的精确度。X射线粉末衍射仪只要分辨率和背景值都能调到最佳状态,是能满足要求的。但对衍射仪的零点调节、校正及记录方式都要求极严。快速扫描通常不能达到这样的水平,而需慢速阶梯扫描。高精度的数据系统误差要求在±0.02°(2θ)范围内。本文将介绍一种采用单色X射线源的实验手段及其测量校正计算方法,相对来说是比较快速和行之有效的,可起到提高粉末图谱的清晰度与精确度的作用。 |
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