首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


Resolution, stability and efficiency of resistivity tomography estimated from a generalized inverse approach
Authors:Sven Friedel
Institution:1Institute for geotechnical engineering, ETH Hoenggerberg, 8093;Zurich, Switzerland 2Institut für Geophysik und Geologie, Universität Leipzig, Talstraße 35, 04103;Leipzig, Germany. E-mail:
Abstract:
Keywords:electrical resistivity tomography  inverse modelling  resolution  stability
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号