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| 克里金插值法内插IGS电离层图精度分析 | |
| 引用本文： | 崔书珍,周金国.克里金插值法内插IGS电离层图精度分析[J].全球定位系统,2016(4):43-47. |
| 作者姓名： | 崔书珍 周金国 |
| 作者单位： | 重庆工程职业技术学院;国家测绘地理信息局重庆测绘院 |
| 基金项目： | 重庆工程职业技术学院重点课题(编号:KJA201408);重庆市教育委员会科学技术项目(编号:KJ1503308) |
| 摘 要： | 采用克里金插值法和常用插值方法内插IGS电离层图数据,获得重庆CORS网5个基准站电离层穿刺点处的VTEC值,和利用5个基准站的GPS平滑伪距观测值解算的VTEC值进行比较,发现克里金插值法和常用插值方法的内插精度相当,故克里金插值法内插IGS电离层图的精度是可靠的。 |
| 关 键 词： | 克里金插值法 双线性插值法 Junkins加权插值法 IGS电离层图 垂直总电子含量 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |