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| X—射线荧光光谱法在标准物质均匀性检验中的应用 | |
| 引用本文： | 李国会,樊守忠.X—射线荧光光谱法在标准物质均匀性检验中的应用[J].地质实验室,1995,11(1):40-43. |
| 作者姓名： | 李国会 樊守忠 |
| 摘 要： | 选取ＸＲＦ法对标准物质进行均匀性检验时的常用的分析元素，根据Ｂｅｅｒ－Ｌａｍｂｅｒ定律，推算出ＸＲＦ分析这到临界饱和厚度时取样量的计算公式，将计算了待定值的几种岩石和矿物标准物质中某些元素的实际照射样品量Ｗ。 |
| 关 键 词： | X－射线 荧光光谱法 标准物质 均匀性 矿物 岩石 |
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