| TOF-SIMS在源岩单组分研究中的应用 |
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| 引用本文： | 李荣西,梁汉东.TOF-SIMS在源岩单组分研究中的应用[J].地学前缘,2001,8(2):421-423. |
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| 作者姓名： | 李荣西 梁汉东 |
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| 作者单位： | [1]中国科学院地球化学研究所矿床地球化学开放研究实验室 [2]中国科学院地球化学研究所矿床 |
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| 基金项目： | 中国博士后科学基金!资助项目 (1999/10 ) |
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| 摘 要： | 应用飞行时间二次离子质谱 (TOF SIMS)对源岩单组分进行原位微分析 ,结果表明有机组分(1)二次离子峰集中分布在低质量数一端 ;(2 )无机离子峰强度普遍高于有机离子峰 ;(3)同类型相邻的有机离子峰之间相差一定单位的质量 (14,即CH2 ) ;(4 )不同有机组分峰强度最大的有机离子相同 ,但它们峰的相对强度差异非常明显 ,借助有机离子峰的相对强度可以反映有机组分的化学结构及其生烃性特征。
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| 关 键 词： | 烃源岩 单组分 TOF-SIMS |
| 文章编号： | 1005-2321(2001)02-0421-03 |
| 修稿时间： | 2001年1月18日 |
APPLICATION OF TOF-SIMS TO STUDIES ON INDIVIDUAL MACERAL OF THE SOURCE ROCKS |
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| LI Rong\|xi ,LIANG Han\|dong.APPLICATION OF TOF-SIMS TO STUDIES ON INDIVIDUAL MACERAL OF THE SOURCE ROCKS[J].Earth Science Frontiers,2001,8(2):421-423. |
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| Authors: | LI Rong\|xi LIANG Han\|dong |
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| Institution: | LI Rong\|xi 1,LIANG Han\|dong 2 |
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| Abstract: | Individual maceral of the source rocks has been analyzed by using Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF SIMS). The results show that (1) the secondary ions of the macerals mostly gathered at the side of lower mass ( m/z <100); (2) the intensity of inorganic ions is generally higher than that of organic ions; (3) there is a certain mass (14,CH 2 ) difference between the two neighbor organic ions of the same type and (4) the organic ions with maximum intensity of different macerals is alike. But the ion intensity of different macerals varies greatly, which reflects the chemical properties of the macerals and the character of the maceral chemistry and their hydrocarbon potential. |
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| Keywords: | source rock maceral TOF SIMS |
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