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| X荧光分析地质样品时的制样方法 | |
| 引用本文： | 王毅民.X荧光分析地质样品时的制样方法[J].岩矿测试,1988(1):77-80. |
| 作者姓名： | 王毅民 |
| 作者单位： | 地质矿产部岩矿测试研究所 |
| 摘 要： | 近年来,X射线荧光(XRF)分析技术的迅速发展和在地质样品分析中的广泛应用,特别是在岩石全分析和化探样品分析中已经发挥的作用使不少岩矿分析者产生了兴趣。人们看到,它不再像二十年前认为的那样,只是测定化学上较难分离的铌、钽、锆、铪和稀土等元素的有效方法,而已成为能测定多种类型地质样品中主要,次要和许多痕量元素的强有力的常规分析手段。要充分发挥这类高效能仪器作用,就需要更多的分析者了解它,使用它。要熟练地掌握XRF分析技术是要经过学习和专门训练的。但这种自动仪器发展的一个突出特点是:内部结构和控制系统复杂,而使用和操作却越来越简单。因此用已建立的方法和编好的程序进行日常分析比其他方法更容易掌握。 |
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