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| TAP,PET等分析晶体的表面处理 | |
| 引用本文： | 李国会,樊守忠.TAP,PET等分析晶体的表面处理[J].岩矿测试,1989,8(2):147-148. |
| 作者姓名： | 李国会 樊守忠 |
| 作者单位： | 地矿部物探研究所中心实验室 (李国会，仲平)，地矿部物探研究所中心实验室(樊守忠) |
| 摘 要： | 晶体是X射线光谱仪的心脏。一个良好的分析晶体应具备以下主要特点:(1)波长范围应适合于所要测量的分析线;(2)反射强度大;(3)分辨率高——高的色散能力和窄的衍射峰宽度;(4)峰背比高;(5)使用时稳定性好,并能经受X射线的长时间照射。最主要的是晶体要有高的衍射强度和好的分辨率,但在我们常用的晶体TAP,PET Ge,InSb,LiF中,由于晶体的潮解,X射线照射的损伤以及酸碱的化学吸附,使晶体的反射强度大大减弱,以致无法使用。为了使这些价格昂贵的晶体 |
| 关 键 词： | 矿物 TAP PET 晶体 表面处理法 |
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