| X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO_2的含量 |
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| 引用本文： | 唐梦奇,黎香荣,刘国文,刘顺琼.X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-SiO_2的含量[J].岩矿测试,2015,34(5):565-569. |
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| 作者姓名： | 唐梦奇 黎香荣 刘国文 刘顺琼 |
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| 作者单位： | 防城港出入境检验检疫局, 广西 防城港 538001,防城港出入境检验检疫局, 广西 防城港 538001,防城港出入境检验检疫局, 广西 防城港 538001,防城港出入境检验检疫局, 广西 防城港 538001 |
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| 基金项目： | 国家质检总局科技计划项目(2014IK268) |
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| 摘 要： | 目前通常采用焦磷酸法和X射线衍射法测定游离α-Si O2的含量,其中焦磷酸法不能消除氧化铁皮中Fe O、Fe3O4和Fe2O3等焦磷酸难溶物质的影响,不适合用于测定氧化铁皮中的游离α-Si O2。本文建立了采用X射线衍射K值法测定氧化铁皮中游离α-Si O2含量的方法。以α-Al2O3作为参考物质,以α-Si O2(101)衍射峰和α-Al2O3(012)衍射峰作为测量谱峰,将α-Si O2和α-Al2O3(质量比1∶1)混合均匀制备成测量K值的试样,获得K值为7.86,应用此值分析已知游离α-Si O2含量的氧化铁皮样品,游离α-Si O2含量的测定值与实际值相符。该方法的测定范围为游离α-Si O2含量≥0.50%,且方便快速,能够满足进口氧化铁皮检验监管的工作需求。
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| 关 键 词： | 氧化铁皮 游离α-SiO2含量 X射线衍射法 K值法 |
| 收稿时间： | 2015/3/20 0:00:00 |
| 修稿时间： | 9/5/2015 12:00:00 AM |
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