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地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定
引用本文:詹秀春,张勤,等.地质样品痕量氯溴和硫的X射线荧光光谱法测定[J].岩矿测试,2002,21(1):12-18.
作者姓名:詹秀春  张勤
作者单位:1. 国家地质实验测试中心,北京,100037
2. 中国地质科学院物化探研究所,河北,廊坊,065000
基金项目:国土资源部地质大调查项目 (DKD 990 40 17)
摘    要:报道了粉末压样-X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量Cl、Br、S的分析方法。采用水系沉积物、岩石和土壤等国家一级标准物质进行校准。实验表明,对于不同岩性样品中Br的分析,特别是当Br的含量低于2μg/g时,采用谱峰强度(未扣除背景)与背景强度的比进行校准所得到的结果,明显优于铑靶线的Compton散射线内标法,分析精度(RSD,n=6)为2.4%-15.3%,大多数优于10%;平均值的相对误差低于24%。对于Cl的分析,只需对Ca的影响加以校正即可得到非常好的结果;不同样品中Cl的分析精度(RSD,n=6)为2.1%-13.6%,大多数优于5%;平均值的相对误差不大于25%,多数优于10%。S的校准曲线的离散性较大,矿物学效应是影响S分析准确度的主要因素,其分析精度(RSD,n=6)为0.87%-5.6%,除个别样品外,平均值的相对误差优于36%。Cl和S均存在分析结果随测量时间(次数)的增加而增高的现象,必须在制样后立即测量。方法的检出限(μg/g)Br、Cl、S分别为0.43、5.8和2.2。

关 键 词:地质样品  X射线荧光光谱        水系沉积物  岩石  土壤
文章编号:0254-5357(2002)01-0012-07
修稿时间:2001年7月31日

Determination of Trace Br, Cl and S in Rock, Soil and Sediment Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry
ZHAN Xiu chun,CHEN Yong jun,ZHENG Miao zi,WANG Jian,LI Ying chun,LI Bing,ZHANG Qin.Determination of Trace Br, Cl and S in Rock, Soil and Sediment Samples by X-Ray Fluorescence Spectrometry[J].Rock and Mineral Analysis,2002,21(1):12-18.
Authors:ZHAN Xiu chun  CHEN Yong jun  ZHENG Miao zi  WANG Jian  LI Ying chun  LI Bing  ZHANG Qin
Institution:ZHAN Xiu chun 1,CHEN Yong jun 1,ZHENG Miao zi 1,WANG Jian 1,LI Ying chun 1,LI Bing 1,ZHANG Qin 2
Abstract:
Keywords:X  ray fluorescence spectrometry (XRF)  bromine  chlorine  sulfur  geological sample  pressed powder pellet
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