| 钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析 |
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| 引用本文： | 孙伟莹,谭秉和.钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析[J].岩矿测试,1998,17(2):107-111. |
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| 作者姓名： | 孙伟莹 谭秉和 |
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| 作者单位： | 北京科技大学化学系,北京,100083 |
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| 摘 要： | 用普通Ｘ射线荧光光谱仪测定了钒的氧化物、钒酸盐及含钒混合物中Ｖ的Ｋβ谱线，借助一套有效的谱处理程序，获得了有关Ｋβ谱线精细结构的谱峰参数，证实了谱线轮廓（Ｋβ″峰逐渐显著，Ｋβ５、Ｋβ″向高能端位移，Ｋβ５与Ｋβ１，３的分开趋势，Ｋβ１，３半峰宽发生变化）及谱峰参数（Ｋβ５峰能量，Ｋβ５与Ｋβ１，３能量差，Ｋβ５与Ｋβ１，３及Ｋβ″与Ｋβ１，３的强度比，以及Ｋβ５和Ｋβ１，３的不对称因子）与Ｖ的氧化数变化呈很强的相关性及规律性变化。
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| 关 键 词： | 化学价态分析 X射线荧光光谱 钒 |
| 修稿时间： | 1997-01-28 |
Study on Vanadium's Kβ Emission Spectra and Valence Analysis of Vanadium |
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| Sun Weiying,Tan Binghe.Study on Vanadium''''s Kβ Emission Spectra and Valence Analysis of Vanadium[J].Rock and Mineral Analysis,1998,17(2):107-111. |
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| Authors: | Sun Weiying Tan Binghe |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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