| 探地雷达技术对表层岩溶带典型剖面组构刻画与界面识别 |
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| 引用本文： | 高强山,彭韬,付磊,王世杰,曹乐,程倩云.探地雷达技术对表层岩溶带典型剖面组构刻画与界面识别[J].中国岩溶,2019,38(5):759-765. |
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| 作者姓名： | 高强山 彭韬 付磊 王世杰 曹乐 程倩云 |
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| 作者单位： | 1.中国科学院地球化学研究所，环境地球化学国家重点实验室，贵阳 550081/中国科学院地球化学研究所，月球与行星科学研究中心，贵阳 550081/中国科学院大学，北京 100049/中国科学院普定喀斯特生态系统观测研究站，贵州 普定 562100 |
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| 基金项目： | 科技部重点研发计划项目（2016YFC0502602）、国家自然科学基金（41571130074和41403112）、喀斯特科学研究中心联合资助项目、（U1612441）和中科院其他项目（132852KYSB20170029）共同资助 |
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| 摘 要： | 表层岩溶带是岩溶研究的重要对象，以往研究以剖面调查半定量为主，文章利用探地雷达属性技术对其发育情况进行定量研究。选取3个表层岩溶带的典型剖面（浅裂隙土、深裂隙土、厚土层覆盖），并采集探地雷达数据，通过提取相干体属性和均方根振幅属性来挖掘雷达数据中的潜在信息，用于区分介质组构和识别发育深度界面。结果表明，均方根振幅属性较好地区分出了浅裂隙土型和深裂隙土型的岩土介质，厚土层覆盖型的犁耕层与非犁耕层土壤介质；相干体属性能较好地识别出表层岩溶带和下部完整基岩，定量化其发育厚度。
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| 关 键 词： | 表层岩溶带 探地雷达 属性技术 |
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