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| X射线萤光光谱法测定铁矿石和岩石中的低、微量元素时基体成分影响的研究 | |
| 引用本文： | 陈远盘.X射线萤光光谱法测定铁矿石和岩石中的低、微量元素时基体成分影响的研究[J].矿产与地质,1983(2). |
| 作者姓名： | 陈远盘 |
| 摘 要： | 用X射线荧光光谱法测定试样的主要成分时,主要是用数学校正法来校正基体成分对分析结果的影响,然而用数学校正法来分析试样中的低、微量元素是很困难的.分析试样中的低、微量元素,多数作者是采用散射内标法或加人内标法来校正基体效应.用散射内标法测定试样中的低、微量元素时,背景强度的变化往往影响分析结果的精确度,特别是分析元素靠近检出限时,分析元素能否检出以及测定结果的精确度如何,主要取决于背景强度的大小及背景测定的精确度. |
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