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| 扫描探针技术材料表面微形貌定量研究综述 | |
| 引用本文： | 李所在,白春礼,等.扫描探针技术材料表面微形貌定量研究综述[J].地质科技情报,1996,15(1):75-78. |
| 作者姓名： | 李所在 白春礼 |
| 作者单位： | [1]中国地质大学，北京100083 [2]中国科学院化学研究所，北 |
| 摘 要： | 介绍了扫描探针显微镜（SPM）技术及其在材料表面微形貌定量研究方面的应用现状，指出了SPM在这方面研究的不足之处以及SPM技术在表面微形貌定量研究方面的应用前景。 |
| 关 键 词： | 扫描探针显微镜 表面微形貌 表面粗糙度 SPM技术 工作原理 材料 |
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