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| 高强度悬式瓷绝缘子原材料中几种粘土矿物的K值测定 | |
| 引用本文： | 龚国洪,龚翼,王志宏.高强度悬式瓷绝缘子原材料中几种粘土矿物的K值测定[J].矿物学报,2009,29(Z1). |
| 作者姓名： | 龚国洪 龚翼 王志宏 |
| 作者单位： | 1. 中国科学院地球化学研究所,矿床地球化学国家重点实验室,贵州贵阳550002 2. 贵州省经济贸易委员会,电子政务中心,贵州贵阳550001 3. 贵州省冶金化工研究所,贵州贵阳,550002 |
| 基金项目： | 矿床地球化学国家重点实验室自主研究课题，中科学院科技支黔工程项目 |
| 摘 要： | 采用X射线衍射K值法测定高强度悬式瓷绝缘子原材料中几种粘土矿物的K值,其目的是能较准确定量原材料中粘土矿物如蒙脱石、绿泥石、伊利石和高岭石等. |
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