首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于小波分析的TEM快速成像
引用本文:马宇,张陪强.基于小波分析的TEM快速成像[J].地质与勘探,2005,41(2):72-76.
作者姓名:马宇  张陪强
作者单位:1. 中国地质科学院地质力学研究所,北京,100081
2. 中国地质大学,北京,100083
摘    要:在信号分析、处理领域,出现了号称为"数学显微镜"的小波分析,给我们带来了新的信号分析工具.小波分析是针对非平稳信号的处理方法,特别适用于动态、瞬态的信号处理.而利用视纵向电导参数进行测深资料解释具有一定的优越性,在以上基础上提出了基于小波分析的TEM快速成像,并在Windows操作平台下开发了绘制微分电导图的软件,软件的功能丰富、界面友好、操作简单,图形能以直观、形象的面貌清晰的展示电性界面的分布形态.

关 键 词:瞬变电磁  小波分析  微分电导  快速成像
文章编号:0495-5331(2005)02-0072-05
修稿时间:2004年3月26日

TEM FAST IMAGING BASED ON WAVELET ANALYSIS
MA Yu,ZHANG Pei-qiang.TEM FAST IMAGING BASED ON WAVELET ANALYSIS[J].Geology and Prospecting,2005,41(2):72-76.
Authors:MA Yu  ZHANG Pei-qiang
Abstract:In the signal treatment domain, there occurs a new method, called advanced "digital microscope" wavelet analysis. Wavelet analysis aims at treatment of non-stationary signal, and is especially suitable for treating dynamic and instant signal. There is a great advantage that uses apparent portrait conductance parameter to explain measurement of depth data. TEM fast imaging technology is proposed based on wavelet analysis. The software on Windows operation system, with abundant function, friend interface, and simple operation, to draw the differential conductance figures has been designed. The output figures can exhibit visual, vivid and clear distribution form of electricity.
Keywords:transient electromagnetic  wavelet analysis  differential conductance  fast imaging  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《地质与勘探》浏览原始摘要信息
点击此处可从《地质与勘探》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号